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by Eiji Takeda, Cary Y. Yang, Akemi Miura-Hamada · Academic Press · tapa blanda · 328 pages
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Este libro ofrece un análisis fundamental y exhaustivo sobre los efectos de los portadores calientes en los dispositivos MOS, un tema de creciente importancia debido al auge de los circuitos integrados ultrarrápidos y de tamaño reducido. Basado en la obra original del Dr. Eiji Takeda, este texto ha sido significativamente ampliado para incluir los últimos descubrimientos en la investigación del área, así como los principios básicos de los dispositivos MOS y sus aplicaciones prácticas en la industria tecnológica actual. La obra constituye una referencia esencial para ingenieros y estudiantes interesados en la física de semiconductores y la ingeniería de dispositivos. A través de sus páginas, se exploran las consideraciones prácticas y los desafíos técnicos que enfrentan los fabricantes al integrar estas tecnologías en el mundo real, consolidándose como un manual técnico indispensable para comprender el comportamiento de los portadores en entornos de alta velocidad.
